Tessent

Buat silikon testable, diagnosable dan sedar diri

Tessent adalah penyelesaian pengurusan kitaran hayat silikon yang meliputi reka bentuk untuk ujian, penjanaan corak ujian, analisis hasil dan reka bentuk pemantauan pada cip melalui pengeluaran volum.

Minta sebut harga Kembali ke kategori

Gambaran Keseluruhan

Bagaimana cekap cip boleh diuji untuk kecacatan bergantung sebahagian besarnya pada sama ada ujian dirancang semasa reka bentuk. Sisipan Tessent mengimbas rantai, struktur mampatan dan terbina dalam ujian kendiri logik supaya corak generasi automatik dan ujian masa dan kos yang terkandung.

Separuh lagi nilainya tiba selepas pengeluaran susur: pada cip pemantauan struktur dan hasil analisis suapan kegagalan maklumat kembali ke dalam reka bentuk dan pembuatan, menutup gelung. Pada jumlah yang tinggi, titik hasil tunggal boleh menjadi perbezaan keuntungan bahan.

Penempatan

Pengurusan kitaran hayat silikon dan penyelesaian measure

Liputan

Reka bentuk-ujian-pengeluaran-bidang

Kemampuan teras

Analisis DFT / ATPG/BIST/hasil

Piawaian

IEEE 1149.1, IEEE 1687

Penggunaan biasa

Reka bentuk untuk ujian, peningkatan hasil pengeluaran

Keupayaan utama

Imbas dan mampatan DFT

Penyisipan automatik rantai imbasan dan mampatan ujian untuk mengurangkan kos ujian.

ATPG

Penghasilan automatik corak ujian dengan liputan tinggi.

Ujian kendiri terbina dalam

Struktur ujian diri pada cip untuk ingatan dan logik.

Analisis hasil

Analisis kegagalan dan hasil persetempatan punca akar.

Pemantauan pada cip

Struktur tertanam yang melaporkan keadaan operasi bidang.

Imbasan sempadan

Sokongan untuk IEEE 1149.1 dan IEEE 1687 antara muka.

Apa yang ia menyampaikan

Sasaran liputan dipenuhi sementara masa ujian kekal di bawah kawalan
DFT sangat automatik dengan pencerobohan minimum pada aliran reka bentuk
Pengeluaran hasil analysable ke punca akar
Pemantauan pada cip menyokong pengurusan kebolehpercayaan jangka panjang
Reka bentuk rentang untuk pengeluaran kelantangan, menyebarkan pulangan sepanjang hayat